LicitaciónBundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Difractómetro de rayos X de sobremesa
Título original: Benchtop-Röntgendiffraktometer
Esta convocatoria ya cerró.
Sobre esta convocatoria
1 Benchtop-Röntgendiffraktometer
Fuente
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